Perfilometria ótica 3D e Ângulo de contato

As formas e tamanhos de amostras para tais técnicas variam bastante. Amostras com dimensões características acima de 10 cm deverão ser descritas por e-mail para avaliação.

 

XPS 

No caso da técnica XPS, as dimensões máximas são de 5x10 mm. A espessura das amostras não deverá ultrapassar 2 mm. Para amostras em pós, deverá ser fornecida uma quantidade correspondente à parte cônica de um frasco eppendorf de 2 mL (vide figura abaixo). 

Algumas observações importantes:

•    XPS é uma análise sensível à superfície da amostra. Dessa forma, evite qualquer procedimento que possa alterar ou contaminar a superfície da mesma. 
•    Só é possível a análise de amostras sólidas que não contenham componentes voláteis. As mesmas devem ser estáveis em um ambiente de pressão menor que 1x10-8 mbar.
•    Além das regiões do espectro solicitadas, todas as análises incluirão o espectro de varredura com baixa resolução (Survey spectrum) e o espectro de alta resolução da região do C 1s.