Laboratório Multiusuário de Análises de Superfícies
Estrutura
Perfilometria óptica 3D
Perfilômetro Óptico 3D Bruker (GTK M, CONTOURGTK)
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Medida de espessura de filmes finos e rugosidades em escala nanométrica. Obtenção rápida de imagens superficiais 2D e 3D
Ângulo de contato
Sistema de medição de ângulo de contato com goniômetro Kruss (DSA 100S/2014)
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Molhabilidade de superfícies sólidas, medidas de ângulo de contato com água e outros líquidos de menor tensão superficial
XPS
Equipamento Omicron Sphera com 7 channeltrons.
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Espectrosopia de fotoelétrons induzidos por raios-x (XPS), quantificação elementar relativa da superfície da amostra e ambiente químico dos elementos presentes
Equipamentos
Nossa equipe
Daniel E. Weibel
Professor Titular da UFRGS atuando como professor permanente nos programas de pós-graduação em Química (PPGQ) e Ciência dos Materiais (PGCIMAT).
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Currículo Lattes: http://lattes.cnpq.br/0912295269231968
Cláudio Radtke
Professor Titular do Instituto de Química da UFGRS.
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Currículo Lattes: http://lattes.cnpq.br/4839018758765203
Isaac Andriew Rodrigues
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Bolsista PREMIUM.